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        產(chǎn)品展示
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        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)

        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)

        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成。該儀器具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。

        • 更新時(shí)間:2023-10-20
        • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        • 產(chǎn)品廠地:上海市
        • 訪問(wèn)次數(shù):1424
        • 產(chǎn)品價(jià)格:9879
        • 產(chǎn)品型號(hào):ST
        STST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的詳細(xì)資料:
        品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
        應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,地礦,電子/電池,道路/軌道/船舶

        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)


        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)簡(jiǎn)述:局部放電檢測(cè)儀根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成。該儀器具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。


        包括:

        1、KF-6209局部放電測(cè)試儀主機(jī)
        2、YDW無(wú)局放試驗(yàn)變壓器
        3、變壓器操作箱
        4、LB工頻隔離濾波器
        5、無(wú)局放耦合電容器
        6、保護(hù)電阻
        7、JZF-10交正脈沖發(fā)生器
        8、輸入單元

        ST局部放電檢測(cè)系統(tǒng)

        注意事項(xiàng):
        1.在試驗(yàn)加壓操作時(shí),試驗(yàn)人員必須仔細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
        2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
        3.在試驗(yàn)過(guò)程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。
        4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
        5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。

         

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