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        產(chǎn)品展示
        ST局放儀

        ST局放儀

        ST局放儀 可測試品電容量范圍:6pF-250uF 檢測靈敏度:<0.02PC (容量50pF時(shí)) 放大器頻帶選擇:3db低頻端頻率10、20、40KHz。

        • 更新時(shí)間:2023-10-20
        • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        • 產(chǎn)品廠地:上海市
        • 訪問次數(shù):1475
        • 產(chǎn)品價(jià)格:9799
        • 產(chǎn)品型號:ST
        STST局放儀的詳細(xì)資料:
        品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
        應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,地礦,電子/電池,道路/軌道/船舶

        ST局放儀 

          

        產(chǎn)品描述

         

        ST局放儀  

        技術(shù)指標(biāo):

        1.可測試品的電容范圍:6pF~250uF

        2.檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
        3.橢圓掃描時(shí)基
        (1) 頻率:50、100、150、200、400Hz
        (2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。
        (3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。
        (4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。
        4.顯示單元
        采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
        5.放大器
        (1) 3dB低頻端頻fL:20、40KHz任選。
        (2) 3dB高頻端頻率fH:200、300KHz任選。
        (3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10倍±5%。
        (4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。
        (5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對稱性:<5%。
        6.時(shí)間窗
        (1) 窗寬:5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
        (2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
        (3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
        7、脈沖峰值表
        (1) 線性指示:0~10*不大于5%。
        (2) 對數(shù)指示:1~10*不大于5%。

        ST局放儀 

        注意事項(xiàng):
        1.在試驗(yàn)加壓操作時(shí),試驗(yàn)人員必須仔細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
        2.對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
        3.在試驗(yàn)過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測量值。
        4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
        5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對整個(gè)測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

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